Олимпиада "Наноэлектроника"
Неофициальный сайт
Главная
|
Фотоальбом
|
Регистрация
|
Вход
|
RSS
Меню сайта
Новости
Приветствие участникам олимпиады
Олимпиада
Олимпиада на официальном сайте
Статьи по наноэлектронике
Публикации студентов
Тестирование
Галерея
Видео
Объявления
Форум
FAQ (вопрос/ответ)
Обратная связь
Категории раздела
"Умная" регенерация и архитектура современных DRAM
[17]
DRAM с архитектурой PIM
[0]
Ассоциативные процессоры и нейроморфные чипы (на основе АЗУ)
[9]
Ассоцитивная память: таксономия, архитектура и элементная база
[39]
АЗУ: сервисные функциональные возможности микросхем памяти
[5]
Smart and Intelligent memory dies, chips and systems
[10]
Естественный и искусственный интеллект на основе Smart and Intelligent Memory
[7]
Реконфигурируемые базовые кристаллы памяти
[0]
Emerging Memory Devices and Chips. Элементная база памяти
[57]
Memory Taxonomy. Классификация памяти
[14]
Nanostore. NVM - энергонезависимая память и нанохранилища
[9]
Память на основе углеродных материалов: графена, УНТ и т.д.
[24]
Мемристорная память
[13]
Near Data Processing (NDP), Data-Centric Systems (DCS)
[9]
3D HMC + 3D Die-stacked memory. HMC - Hybrid Memory Cube
[3]
Наш опрос
Оценка сайта нано-е.рф
Нравится
Не нравится
Требуется доработка дизайна
Требуется наполнение контентом
Результаты
|
Архив опросов
Всего ответов:
58
Статистика
Онлайн всего:
1
Гостей:
1
Пользователей:
0
Главная
»
Фотоальбом
»
"Умная" и "разумная" нанопамять и нанохранилища
» АЗУ: сервисные функциональные возможности микросхем памяти
Фотографий в альбоме:
5
Сортировать по:
Просмотрам
(2014) Синхрог-асинхрон АЗУ сравнение
16.02.2017
Survey on Design of Content Addressable Memories
Источник:
- http://ijsetr.org/wp-content/uploads/2014/...
VAL3429
612
0
0.0
АЗУ. План Лекции
10.02.2017
Лекция: Content Addressable Memory Addressable Memory Testing
Источник: http://www.ee.ncu.edu.tw/~jfli/memtest...
VAL3429
553
0
0.0
АЗУ. Титул Лекции
10.02.2017
Лекция: Content Addressable Memory Addressable Memory Testing
Источник: http://www.ee.ncu.edu.tw/~jfli/memtest...
VAL3429
629
0
0.0
Программа курса
10.02.2017
EE8054. Semiconductor Memory Testing (учебный курс лекций)
Источник: http://www.ee.ncu.edu.tw/~jfli/memtest/le...
VAL3429
502
0
0.0
Титул курса
10.02.2017
EE8054. Semiconductor Memory Testing (учебный курс лекций)
Источник: http://www.ee.ncu.edu.tw/~jfli/memtest/le...
VAL3429
566
0
0.0
Форма входа
Поиск
Друзья сайта
Официальный блог
Сообщество uCoz
FAQ по системе
Инструкции для uCoz
nano-e.ucoz.ru © 2024
Хостинг от
uCoz